【世界初】各国の特許審査に関連する情報が一括で参照できます

2016年07月26日 お得な情報 スタッフブログ 改正情報 最新情報

みなさま、こんにちは。
横浜 の特許事務所 IPWIN の弁理士、保屋野でございます。

 

特許庁より
日米欧中韓の五大特許庁への出願&PCT国際出願等の特許審査に関連する情報を、
世界で初めて一括把握できるサービス
「ワン・ポータル・ドシエ(OPD)」が始まりました!
http://www.meti.go.jp/press/2016/07/20160725001/20160725001.html
https://www10.j-platpat.inpit.go.jp/pop/all/popd/POPD_GM101_Top.action

これにより、ユーザーは上記各国の審査情報をワンストップで得ることができます。

ためしに使ってみましょう。
今回は、最近米国で特許になったと話題になった
Appleの“曲面ディスプレイの電子デバイス”に関する特許を調べてみます。

apple

まず、J-PlatPatにアクセスし、「特許・実用新案」のタブから、
「8.ワン・ポータル・ドシエ(OPD)照会」を選択します。

1

照会ページが表示されたら文献番号を記載します。
発行国は「アメリカ」、種別は「特許明細書(B)」、番号は「9367095」を入力して、照会します。

2

すると、ドシエ情報(ファミリー情報)が出てきました。

これは便利!!

3

左から、「日本」「欧州」「米国」「韓国」の順で並んでいます。

「日本」の「明細書」、「原文」を選択すると、

4

出てきました。

メリットは下記の通りです。

  • 各庁における手続や審査の状況を一括で把握することができる
  • 各種書類データを容易に取得することができる
    • ・各庁のドシエ情報の英訳も提供されるため、例えば、中国への出願に対する拒絶理由通知書について、中国語と英語で取得できる
    • ・各庁のデータベースをリアルタイムに検索するため、最新の情報を得ることができる
    • ・その他、書類の種別によるフィルタ機能、付与された分類や引用された文献の一覧表示機能等、必要な情報をまとめて参照するための様々な機能を利用することができる

 

なお、ドシエ情報の一括提供は「世界初」と、経産省はアピールしています(笑)

いろいろ活用できそうですね。


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